Współczesna metrologia : zagadnienia wybrane / autorzy Jerzy Barzykowski, Anna Domańska, Małgorzata Kujawińska, Janusz Mroczka, Stanisław Ososwski, Zbigniew Polański, Waldemar Tlaga, Danuta Turzeniecka, Wiesław Winiecki.
Material type:
TextPublication details: Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 2007.Edition: Wyd. I (dodruk)Description: 573, [1] strona : ilustracje ; 24 cmContent type: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 9788320433531
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
Książki
|
Biblioteka Główna URK Magazyn Główny | 150588 II (Browse shelf(Opens below)) | 10 | Do skorzystania w Czytelni Głównej po uprzednim zamówieniu | 1000098624 | |
Skrypty
|
Biblioteka Główna URK Magazyn Główny | 094146 (Browse shelf(Opens below)) | 3 | Available | 1000097804 | |
|
Skrypty
|
Biblioteka Główna URK Magazyn Główny | 094145 (Browse shelf(Opens below)) | 4 | Available | 1000097805 | |
|
Skrypty
|
Biblioteka Główna URK Magazyn Główny | 094144 (Browse shelf(Opens below)) | 5 | Available | 1000097806 | |
|
Skrypty
|
Biblioteka Główna URK Magazyn Główny | 094143 (Browse shelf(Opens below)) | 6 | Available | 1000097807 | |
|
Skrypty
|
Biblioteka Główna URK Magazyn Główny | 094142 (Browse shelf(Opens below)) | 7 | Available | 1000097808 | |
|
Skrypty
|
Biblioteka Główna URK Magazyn Główny | 094141 (Browse shelf(Opens below)) | 8 | Available | 1000097809 | |
|
Skrypty
|
Biblioteka Główna URK Magazyn Główny | 094140 (Browse shelf(Opens below)) | 9 | Available | 1000097810 | |
|
Skrypty
|
Biblioteka Główna URK Magazyn Główny | 094147 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 1000097722 | |
|
Skrypty
|
Biblioteka Główna URK Czytelnia WTŻ | Pa 48 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Dostępny tylko na miejscu w Czytelni WTŻ | 1000097743 |
Total holds: 0
Browsing Biblioteka Główna URK shelves, Shelving location: Magazyn Główny Close shelf browser (Hides shelf browser)
Bibliografia przy rozdziałach. Indeks.
Podręcznik dla wykładowców, doktorantów i studentów uczelni technicznych.